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¤ýÁ¦Ç° Test Program °³¹ß ¹× Ư¼º Æò°¡ - Wafer Probe (EDS or CP), Final Test(Assembly or Package Test) ¤ý¾ç»ê Issue ºÒ·® ºÐ¼® - Àú¼öÀ² ºÐ¼®, RMA ½Ã·á ºÐ¼®, ¿ÂµµÆò°¡, ¿ÜÁÖó Engineering Áö¿ø ¤ý¿ø°¡ Àý°¨ Ȱµ¿ - Multi-DUT Setup, Test Time Reduction |
ÀÚ°Ý¿ä°Ç ¤ý´ëÁ¹ ÀÌ»ó (Àü±â/ÀüÀÚ/¹°¸®/Àç·á µî Àü°ø) ¤ý°æ·Â 2³â ÀÌ»ó ¿ì´ë»çÇ× ¤ýDisplay Driver IC Á¦Ç° Test Program °³¹ß °æÇèÀÚ ¿ì´ë ¤ýND3, ND4 Àåºñ »ç¿ë °æÇèÀÚ ¿ì´ë¤ýPerl, C, C++ °¡´ÉÀÚ ¿ì´ë ±âŸ»çÇ× ¤ý°í¿ëÇüÅ : Á¤±ÔÁ÷ ¤ý±Ù¹«Áö: ÆÇ±³/ºÐ´ç ¤ý¹®ÀÇ: 010-7565/ ******@*******.*** |
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2021-11-28 (ÀÏ) 23½Ã59ºÐ±îÁö
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