[´ë±â¾÷ ¹ÝµµÃ¼È¸»ç]
SiC¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡(°æ·Â)
´ã´ç¾÷¹« | ÀÚ°Ý¿ä°Ç | Àοø |
---|---|---|
[´ã´ç¾÷¹«] - SiC MOSFET ¼ÒÀÚ°³¹ß - SiC MOSFET ¼ÒÀÚ Æ¯¼º Æò°¡ ¹× ºÐ¼® Reliability test [±Ù¹«ºÎ¼ ¹× Á÷±Þ/Á÷Ã¥]
|
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] - ÇзÂ: ÇлçÀÌ»ó - °æ·Â: 7³âÀÌ»ó Module test °æÇè [¿ì´ë»çÇ×] - MOSFET/IGBT °³¹ß °æ·ÂÀÚ (10³â ÀÌ»ó °æ·ÂÀÚ) - SiC MOSFET °³¹ß/Æò°¡ °æÇèÀÚ
[±Ù¹«Áö] °æ±â ºÎõ or ÃæºÏ À½¼º
|
1 ¸í |
±Ù¹«Á¶°Ç
ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼·ù
Á¢¼ö¹æ¹ý
2023³â 12¿ù 04ÀÏ ~ ä¿ë½Ã ¸¶°¨
±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×