[ä¿ë»ç] ÀÌÂ÷ÀüÁö ¹ÝµµÃ¼ Àü¹®±â¾÷


[Æ÷Áö¼Ç] Test Engineer


[´ã´ç¾÷¹«]

- Á¦Ç°Æ¯¼º ¹× ¾ç»ê¿ëÀÚµ¿È­ Test ÇÁ·Î±×·¥°³¹ßÀ» À§ÇÑPlanÀÛ¼º

- Probe cards ¹× load boards ¼³°è ¹× Á¦ÀÛ 

- Wafer ¹× PKG Å×½ºÆ®¸¦ À§ÇÑ ÀÚµ¿È­ ÇÁ·Î±×·¥ °³¹ß(ex. V93K, Teradyne)

- µ¥ÀÌÅÍ ¹× Åë°èºÐ¼®ToolÀ» Ȱ¿ëÇÏ¿© Á¦Ç°Æ¯¼º ¹× Å×½ºÆ® µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼®


[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

- ÇлçÀÌ»ó 

- ¹ÝµµÃ¼ ATE test ºÐ¾ß ¸¸ 3³â ÀÌ»óÀÇ °æ·Â

- °øÇа迭 (¹ÝµµÃ¼/ Àü±â/ ÀüÀÚ/ ÄÄÇ»ÅÍ µî) Àü°øÀÚ ¿ì´ë


[¿ì´ë»çÇ×] 

- ¹ÝµµÃ¼È¸·Î¿ÍPCB ¼³°è¿¡ ´ëÇÑ ½Ç¹«Áö½Ä º¸À¯ÀÚ¿ì´ë

- Java, C++ µî Coding ´ÉÅëÀÚ

- Wafer ¹× final test program °³¹ß °æÇèÀÚ

- Åë°è µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼®À» ÅëÇØ ¼öÀ² ¹× ºÒ·® ºÐ¼® °æÇèÀÚ ¿ì´ë


[±Ù¹«Áö] ´ëÀü½Ã À¯¼º±¸ 


[¿¬ºÀ ¹× ó¿ì] ±âÁ¸¿¬ºÀ + @ÇùÀÇ (¼º°ú±Þ º°µµ) / ±â¼÷»ç Á¦°ø(Áְźñ Áö¿ø)


[ÀüÇüÀýÂ÷] ¼­·ùÀüÇü – ¸éÁ¢ÀüÇü - ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý(ÀÔ»ç)


[Á¦Ãâ¼­·ù]  À̷¼­ / ÀÚ±â¼Ò°³¼­

 

[Á¦Ãâ±â°£] ASAP (ä¿ë½Ã ¸¶°¨)


 

[À̷¼­ Á¦Ãâ ¹× ¹®ÀÇ]

ÇìµåÇåÅÍ ±èÀç¿ø Àü¹« 

******@*******.***  /  ***-****-**** 


(ÁÖ)Ä¿¸®¾îÇÏÀÌÄÁ¼³ÆÃ  

»ç¾÷ºÎ ´ëÇ¥ / ÇìµåÇåÅÍ  Àü¹« ±èÀç¿ø (Jay Kim)

¼­¿ïƯº°½Ã ±Ýõ±¸ µðÁöÅзΠ9±æ 47 306È£ (°¡»êµ¿, ÇѽÅITŸ¿ö2Â÷)

T.  ***-****-****   F. 0504.471.9539   M. ***-****-****

E.  ******@*******.***  / ******@*******.***

W. www.careerhighc.com