[Æ÷Áö¼Ç] IGBT Development Engineer (Ã¥ÀÓ±Þ)
[´ã´ç¾÷¹«]
- IGBT ¼ÒÀÚ °³¹ß
- IGBT ¼ÒÀÚ Æ¯¼º Æò°¡ ¹× ºÐ¼®
- IGBT ¼ÒÀÚ & Package Level Reliability Test
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]
- ÇзÂ: ÇлçÀÌ»ó(ÀüÀÚ°øÇÐ À¯»ç°è¿), ¼®»ç, ¹Ú»ç ¼±È£
- °æ·Â: 7³â ÀÌ»ó
- Discrete Device Design °æÇè
- Discrete Device Test & Reliability Test °æÇè, Module Test °æÇè
[¿ì´ë»çÇ×]
- IGBT °³¹ß °æ·ÂÀÚ (10³â ÀÌ»ó °æ·ÂÀÚ)
- IGBT °³¹ß/Æò°¡ °æÇèÀÚ
[±Ù¹«Áö]
- R&D ¼¾ÅÍ (¼Ãʱ¸ ¾çÀ翪)
[ÀüÇü ÀýÂ÷]
- ¼·ùÀüÇü > ¸éÁ¢(½ÉÃþ±â¼ú¸éÁ¢ Æ÷ÇÔ) > ä¿ëÈ®Á¤ ¹× Àâ¿ÀÆÛ Á¦°ø
[¿¬ºÀ]
- ´ë±â¾÷ ¼öÁØ(¾÷°è ÃÖ°í ¼öÁØ) ¹× Àμ¾Æ¼ºê Á¦°ø
[º¹¸®ÈÄ»ý]
- ÅðÁ÷±Ý, ±³Åëºñ, ½Äºñ, °æÁ¶ÈÞ°¡ ¹× °æÁ¶±Ý, Àå±â±Ù¼ÓÀÚ Æ÷»ó±Ý, ¸íÀý ¼±¹°, »ýÀÏ ¼±¹° µî Á¦°ø
[ä¿ë ±â¾÷¿¡ ´ëÇÑ Ãß°¡ Á¤º¸]
* ±¹³» ÁÖ¿ä ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ»ç·ÎºÎÅÍ ÅõÀÚ ¹ÞÀº ±â¾÷À¸·Î ȸ»ç ¿î¿µ ¹®Á¦ ¾øÀ½
* ÇöÀç ±¸¼º¿øµéÀº ¾ç»ê °æÇèÀÌ ¸¹Àº º£Å×¶ûÀ¸·Î »ï¼ºÀüÀÚ, SKÇÏÀ̴нº, ¿Â¼¼¹Ì ¹× DBÇÏÀÌÅØ Ãâ½Å µî
* Áö¿øÀÚ °øÈ÷ 1½Ã°£ Á¤µµ technical oral test ½ÉÃþ ¸éÁ¢ ÁøÇà
* ±â ¸éÁ¢ÀÚ Çǵå¹é¿¡ ÀÇÇϸé "ÀÏÇÏ°í ½ÍÀº ÁÁÀºÈ¸»ç"·Î Æò°¡
* ¿¬ºÀÀº ´ë±â¾÷ ¼öÁØ(¾÷°è ÃÖ°í ¼öÁØ)À¸·Î ´ë¿ì, Àμ¾Æ¼ºê ¹× º¹¸®ÈÄ»ý Á¦°ø
* º¹¸®ÈÄ»ýÀº ±Ù¹«¿¡ ÁöÀåÀÌ ¾øµµ·Ï ÃÖ´ëÇÑ Á¦°øÇÏ¸ç ±¸¼º¿ø ¸ðµÎ ¸¸Á·Çϰí ÀÖÀ½
* ½ÃÂ÷ Ãâ±ÙÁ¦µµ ½ÃÇà Áß (Ãâ±Ù½Ã°£: ¿ÀÀü 7½Ã, 8½Ã, 9½Ã Áß ¼±Åà °¡´É)
* ÃæºÐÇÑ ÀÚ°ÝÀÌ °ËÁõµÈ ÀÎÀç´Â °è¼Ó Ãæ¿ø Áß
[¹®ÀÇ]
Jerry SOHNÀü¹« / ¸®Äí¸£ÆÃ ÄÁ¼³ÅÏÆ®
META½áÄ¡(ÁÖ)
E. ******@*******.***