|
[´ã´ç¾÷¹«] Æ÷Áö¼Ç : ¹ÝµµÃ¼ Test Program °³¹ß ¹× ¾ç»ê(2~5³â °æ·Â)
[ÁÖ¿ä¾÷¹«]
• System IC Test Program °³¹ß - ´ë»ó: LED Driver IC, Mixed sigtnal IC µî - Àåºñ: Advantest, Teradyne, Accotest µî ATE ±â¹Ý °³¹ß • ¾ç»ê Å×½ºÆ® ¼Â¾÷ ¹× ÃÖÀûÈ - Fail bin ºÐ¼®, ¼öÀ² °³¼± - Ãʱ⠾ç»ê ´ëÀÀ ¹× °í°´ Çǵå¹é ó¸® • Å×½ºÆ® °á°ú ¹®¼È ¹× ±â¼ú Áö¿ø - Test Spec, Debug Report, °í°´ ´ëÀÀ¹®¼ ÀÛ¼º • ºÒ·® ºÐ¼® ¹× ¿øÀÎ ±Ô¸í - IC ³»ºÎ µ¿ÀÛ/Àü¿ø/ȸ·Î ºÐ¼® ±â¹Ý °³¼± Ȱµ¿ - ³»ºÎ Çù¾÷ (QA ¹× ¼³°èÆÀ)
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]
• °æ·Â 2~5³â • ´ëÇб³Á¹¾÷(4³â)ÀÌ»ó • Áß±¹¾î ´ÉÅëÀÚ
[¿ì´ë»çÇ×]
• ÀüÀÚ, ÄÄÇ»ÅͰøÇÐ °ü·Ã Çаú Àü°ø • System IC Å×½ºÆ® °³¹ß ¹× ¾ç»ê °æÇèÀÚ
[±Ù¹«Á¶°Ç]
• °í¿ëÇüÅ : Á¤±ÔÁ÷(3°³¿ù ¼ö½À) • ±Þ¿© : ¸éÁ¢ ÈÄ °áÁ¤ • ±Ù¹«Áö : °æ±â ȼº½Ã µ¿Åº´ë·Î 21±æ
[ä¿ëÀýÂ÷]
ÀüÇüÀýÂ÷ : ¼·ùÀüÇü ¡æ ¸éÁ¢ ¡æ ÆòÆÇÁ¶È¸->ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
[º¹Áö ¹× ÇýÅÃ]
• ±Þ¿©Á¦µµ : Àå±â±Ù¼ÓÀÚ Æ÷»ó, ÅðÁ÷±Ý, ¼º°ú±Þ, 4´ë º¸Çè • ±Ù¹« ȯ°æ : ÈÞ°Ô½Ç, °ø±âûÁ¤±â, Ä«ÆäÅ׸®¾Æ, »ç³» Á¤¿ø, ³ëÆ®ºÏ, Äܵµ/¸®Á¶Æ® ÀÌ¿ë±Ç, »ç¹«¿ëǰ Áö±Þ • Áö¿ø±Ý/º¸Çè : °¢Á¾ °æÁ¶»ç Áö¿ø • ¸®ÇÁ·¹½Ã : ¿¬Â÷, °æÁ¶ÈÞ°¡Á¦, ¹ÝÂ÷, ±Ù·ÎÀÚÀdz¯ ÈÞ¹«, »êÀü ÈÄ ÈÞ°¡ • Á¶Á÷ ¹®È : ȸ½Ä°¿ä ¾ÈÇÔ, ¾ß±Ù°¿ä ¾ÈÇÔ, ÀÚÀ¯º¹Àå, ÀÚÀ¯·Î¿î ¿¬Â÷»ç¿ë • ±³À°/»ýȰ : ¿öÅ©¼¥, ½Å±Ô ÀÔ»çÀÚ ±³À°(OJT), Á÷¹«´É·ÂÇâ»ó±³À°, Á¡½É½Ä»ç Á¦°ø, Àú³á½Ä»ç Á¦°ø, À½·áÁ¦°ø(Â÷,Ä¿ÇÇ) • ¼±¹° : »ýÀϼ±¹°/ÆÄƼ, ÀÓ½Å/Ãâ»ê ¼±¹°, Àå±â±Ù¼Ó ¼±¹°
|
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] °æ·Â: °æ·Â 2~5³â ÇзÂ: ´ëÁ¹ Á÷¹«±â¼ú: Áß±¹¾î, ¹ÝµµÃ¼ CS
|