Wafer/Package ¾ç»ê test °ü¸®ÀÚ/
(3~ 8³â)
- ¹ÝµµÃ¼(ÄÚ½º´Ú)
¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç
| ¸ðÁýºÎ¹® | ´ã´ç¾÷¹« | ÀÚ°Ý¿ä°Ç | Àοø |
|---|---|---|---|
Wafer/Package ¾ç»ê test °ü¸®ÀÚ/ (3~ 8³â) |
[´ã´ç¾÷¹«] ¤ýWafer/Package ¾ç»ê test °ü¸® - Test ǰÁú °³¼±, Test Program °ü¸®, Àú¼öÀ² ºÐ¼® ¹× °³¼±, ¾ç»ê abnormal lot ºÐ¼® ¹× ó¸® µî ¤ýTest ºñ¿ë Àý°¨ ¤ýAutomotive Quality control ¤ýWafer/Package data Åë°èÀû ºÐ¼® |
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] ¤ýÆÕ¸®½º, Test house µî ¹ÝµµÃ¼ test ºÐ¾ß¿¡¼ SoC Á¦Ç°ÀÇ Wafer/Package test ¿î¿µ 3³â ÀÌ»ó ½Ç¹«ÀÚ ¤ýºñÁî´Ï½º ¿µ¾î °¡´ÉÀÚ [¿ì´ë»çÇ×] ¤ýSoC Á¦Ç° test ¾÷¹« °æ·ÂÀÚ¤ý¿µ¾î È¸È ´ÉÅëÀÚ [±âŸ»çÇ×] ¤ýä¿ë±¸ºÐ: Á¤±ÔÁ÷ ¤ý¿¬ºÀ: ÈíÁ·ÇÏ°Ô ÇùÀÇ/ ¿ª·® ¿ì¼öÇϽŠºÐ¸¸ |
0 ¸í |
±Ù¹«Á¶°Ç
ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼·ù
Á¢¼ö¹æ¹ý
±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×